ogp影像儀VIEW Summit 450/600 大量程、高精度影像測量系統 VIEW Summit的高精度和迅捷的測量速度專為近線生產工藝監控和質量保證應運而生。其200 mm/秒的XY平臺移動速度以及可選配的X-Y無阻力線性馬達驅動（可達400mm/秒），保證了車間環境中超高的生產力。

VIEW Benchmark 450 高價值、高精度影像測量系統 擁有大氣測量外觀的非接觸式光學測量儀體現了VIEW的性能和風范。其450 x 450 mm的大行程平臺，既適合測量大號的工件，也可一次批量測量多個小零件組。先進的光學、照明、可選配的TTL激光、以及圖像處理能力使Benchmark 450成為世界*的計量系統。

VIEW MicroLine 300 MicroLine 300 關鍵尺寸的自動化光學測量系統 MicroLineTM 300是一款高性能測量晶圓、光罩、MEMS和其他微加工設備等關鍵尺寸的自動化測量系統。該系統配備了高質量光學顯微鏡和精密移動平臺，可對200mm的晶圓上0.5µm到400µm的特征尺寸進行全自動的精密視場測量。

VIEW Pinnacle 250 高產出、高精度尺寸測量系統 EW Pinnacle 250影像測量儀有著非凡的精度和生產率，優異的MTBF性能，以及在同類型自動測量系統中Z低的購置成本。其*的可編程多色環形燈（PRL）選項運用紅、綠、藍、白LED照明，可輕松應對Z苛刻的應用。

VIEW Benchmark 250 緊湊型高精度影像測量系統可滿足你所期望的VIEW Micro-Metrology臺式測量機帶來的高性能和可靠性。先進的光學、照明、可選配的TTL激光、以及圖像處理能力使其成為世界*的計量系統。